HNDL系列大功率直流電源
本款電源在功率區(qū)間內，各種電壓、電流的組合都能夠以全功率輸出，大幅降低電源系統(tǒng)搭建的復雜度及占用空間。由于以上恒功率特性，本款電源多應用于實驗室和自動測試系統(tǒng)中提供大功率、穩(wěn)定的直流供電。采用ARM新一代32位處理器為監(jiān)控芯片，采用PWM脈寬調制方式，以IG為主控元件，中高頻變壓器隔離，快恢復二極管整流的直流恒壓恒流恒功率電源。按照存儲芯片MicroSD卡供電要求的范圍：2.7V-3.6V；不允許超出此范圍，否則，芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會有比較大的風險，甚至會對卡片的正常工作帶來影響。需要考慮的是示波器的設置，究竟是否需要進行20MHZ的帶寬限制？詳細的使用環(huán)境如下圖所示：如何去測試“高頻開關電源”噪聲IPAD剛引出來的那個端口可以當做電源的源端，而通過后端的外圍模塊后在末端進行測試的時候，電源通過了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限制，實際上是將原本屬于模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進行了對比測試進行驗證：步，我先驗證IPAD的供電端在工作時的輸出，如下圖：通過直接驗證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過測試，我們發(fā)現(xiàn)在源端測量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測量）左右，峰峰值29mV，是非常穩(wěn)定的供電；可以排除源端供電的問題，接下來，我們直接在通過整個模塊后在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電行測量，如下圖：當我們在圖片上的點進行測試的時候，發(fā)現(xiàn)在高頻開關電源上有相當大的噪聲，使得電壓超出了規(guī)范要求的范圍，值達到了3.814V，峰峰值達854mV；但當我們將示波器設置為20MHZ帶寬的時候，高頻開關電源變的非常好，在供電要求的范圍內；正如在本文開頭描述的，在本次高頻開關電源測試過程中，已經(jīng)不是高頻開關電源紋波測量，而應該是噪聲。
一、 主要指標
1、輸入電壓：AC220V±10﹪ 50Hz±10﹪
2、恒壓值連續(xù)可調范圍：近似0—10000V額定值
3、恒流值連續(xù)可調范圍：近似0—100000A額定值
4、穩(wěn)壓穩(wěn)流狀態(tài)自動轉換
5、源效應：≤0.2﹪額定值（輸入電源電壓變化±10﹪時引起的輸出電壓的變化率）
6、負載效應 ≤0.5﹪（輸出電流從零至額定值變化時引起的輸出電壓變化率）
7、穩(wěn)壓精度≤0.3﹪
8、穩(wěn)流精度≤0.3﹪
9、輸出紋波：≤1﹪+20mV（輸出20﹪-電壓時測量）
10、電壓電流設定：旋轉編碼器
11、顯示方式：LED數(shù)碼管顯示
12、顯示分辨率：電壓表0.01V，電流表0.1A
13、顯示誤差：≤1﹪±1個字（50﹪ - 量程內）
14、保護方式：輸出短路、過壓、過溫保護
15、 工作方式：滿負荷連續(xù)工作
16、 時漂：≤0.3﹪額定值（電源連續(xù)工作時間大于8個小時引起的輸出電壓的變化率）
17、溫漂：≤0.05﹪額定值/℃（電源使用環(huán)境溫度范圍內由環(huán)境溫度變化引起的輸出電壓變化率）
機箱尺寸：根據(jù)實際規(guī)格選用
當總線變?yōu)榭臻e時，若RXD引腳輸出低電平，則可能導致MCU接收到錯誤數(shù)據(jù)或MCU在正常數(shù)據(jù)后誤接收1個000。RSM485PCHT門限電平數(shù)據(jù)發(fā)生了什么變化?如所示，收發(fā)器1在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內時輸出高電平，收發(fā)器2在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內時輸出低電平，可以看出，收發(fā)器2可能導致MCU接收到錯誤的數(shù)據(jù)，并且在數(shù)據(jù)后誤接收到1個000數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)后多000如所示，若總線上持續(xù)存在數(shù)據(jù)信號或連續(xù)發(fā)送多個字節(jié)數(shù)據(jù)，在數(shù)據(jù)之間存在的空閑狀態(tài)可能會被收發(fā)器2識別為1個起始位，從而導致數(shù)據(jù)連續(xù)錯誤。是上產(chǎn)量的化學產(chǎn)品之一，其生產(chǎn)能力是衡量一個家石油化工發(fā)展水平的重要標志。裂解爐是生產(chǎn)裝置的核心設備，將天然氣、原油等各類原材料加工成裂解氣，提供給其它裝置，終加工成、丙烯及各種副產(chǎn)品，其生產(chǎn)能力及的高低，直接決定了整套裝置的生產(chǎn)規(guī)模和產(chǎn)品品質。在裂解過程中，由于二次反應，裂解爐管內壁上和急冷換熱器的管內壁上會產(chǎn)生結焦現(xiàn)象。隨著裂解的進行，焦量不斷增加，直接影響管壁的導熱性能，造成局部過熱而燒壞設備，甚至堵塞爐管，引起事故。
本款電源在功率區(qū)間內，各種電壓、電流的組合都能夠以全功率輸出，大幅降低電源系統(tǒng)搭建的復雜度及占用空間。由于以上恒功率特性，本款電源多應用于實驗室和自動測試系統(tǒng)中提供大功率、穩(wěn)定的直流供電。采用ARM新一代32位處理器為監(jiān)控芯片，采用PWM脈寬調制方式，以IG為主控元件，中高頻變壓器隔離，快恢復二極管整流的直流恒壓恒流恒功率電源。按照存儲芯片MicroSD卡供電要求的范圍：2.7V-3.6V；不允許超出此范圍，否則，芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會有比較大的風險，甚至會對卡片的正常工作帶來影響。需要考慮的是示波器的設置，究竟是否需要進行20MHZ的帶寬限制？詳細的使用環(huán)境如下圖所示：如何去測試“高頻開關電源”噪聲IPAD剛引出來的那個端口可以當做電源的源端，而通過后端的外圍模塊后在末端進行測試的時候，電源通過了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限制，實際上是將原本屬于模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進行了對比測試進行驗證：步，我先驗證IPAD的供電端在工作時的輸出，如下圖：通過直接驗證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過測試，我們發(fā)現(xiàn)在源端測量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測量）左右，峰峰值29mV，是非常穩(wěn)定的供電；可以排除源端供電的問題，接下來，我們直接在通過整個模塊后在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電行測量，如下圖：當我們在圖片上的點進行測試的時候，發(fā)現(xiàn)在高頻開關電源上有相當大的噪聲，使得電壓超出了規(guī)范要求的范圍，值達到了3.814V，峰峰值達854mV；但當我們將示波器設置為20MHZ帶寬的時候，高頻開關電源變的非常好，在供電要求的范圍內；正如在本文開頭描述的，在本次高頻開關電源測試過程中，已經(jīng)不是高頻開關電源紋波測量，而應該是噪聲。
一、 主要指標
1、輸入電壓：AC220V±10﹪ 50Hz±10﹪
2、恒壓值連續(xù)可調范圍：近似0—10000V額定值
3、恒流值連續(xù)可調范圍：近似0—100000A額定值
4、穩(wěn)壓穩(wěn)流狀態(tài)自動轉換
5、源效應：≤0.2﹪額定值（輸入電源電壓變化±10﹪時引起的輸出電壓的變化率）
6、負載效應 ≤0.5﹪（輸出電流從零至額定值變化時引起的輸出電壓變化率）
7、穩(wěn)壓精度≤0.3﹪
8、穩(wěn)流精度≤0.3﹪
9、輸出紋波：≤1﹪+20mV（輸出20﹪-電壓時測量）
10、電壓電流設定：旋轉編碼器
11、顯示方式：LED數(shù)碼管顯示
12、顯示分辨率：電壓表0.01V，電流表0.1A
13、顯示誤差：≤1﹪±1個字（50﹪ - 量程內）
14、保護方式：輸出短路、過壓、過溫保護
15、 工作方式：滿負荷連續(xù)工作
16、 時漂：≤0.3﹪額定值（電源連續(xù)工作時間大于8個小時引起的輸出電壓的變化率）
17、溫漂：≤0.05﹪額定值/℃（電源使用環(huán)境溫度范圍內由環(huán)境溫度變化引起的輸出電壓變化率）
機箱尺寸：根據(jù)實際規(guī)格選用
當總線變?yōu)榭臻e時，若RXD引腳輸出低電平，則可能導致MCU接收到錯誤數(shù)據(jù)或MCU在正常數(shù)據(jù)后誤接收1個000。RSM485PCHT門限電平數(shù)據(jù)發(fā)生了什么變化?如所示，收發(fā)器1在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內時輸出高電平，收發(fā)器2在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內時輸出低電平，可以看出，收發(fā)器2可能導致MCU接收到錯誤的數(shù)據(jù)，并且在數(shù)據(jù)后誤接收到1個000數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)后多000如所示，若總線上持續(xù)存在數(shù)據(jù)信號或連續(xù)發(fā)送多個字節(jié)數(shù)據(jù)，在數(shù)據(jù)之間存在的空閑狀態(tài)可能會被收發(fā)器2識別為1個起始位，從而導致數(shù)據(jù)連續(xù)錯誤。是上產(chǎn)量的化學產(chǎn)品之一，其生產(chǎn)能力是衡量一個家石油化工發(fā)展水平的重要標志。裂解爐是生產(chǎn)裝置的核心設備，將天然氣、原油等各類原材料加工成裂解氣，提供給其它裝置，終加工成、丙烯及各種副產(chǎn)品，其生產(chǎn)能力及的高低，直接決定了整套裝置的生產(chǎn)規(guī)模和產(chǎn)品品質。在裂解過程中，由于二次反應，裂解爐管內壁上和急冷換熱器的管內壁上會產(chǎn)生結焦現(xiàn)象。隨著裂解的進行，焦量不斷增加，直接影響管壁的導熱性能，造成局部過熱而燒壞設備，甚至堵塞爐管，引起事故。
