封裝級芯片測試系統-老化測試系統-可靠性測試設備
S-PCTE-1000/3000-36 功率循環測試機
本系統適用于各種封裝的半導體分立器件進行功率間歇壽命試驗（IOL）、秒級﹙s﹚/分鐘級﹙min﹚功率循環試驗（Power Cycling）。
產品概述：本系統適用于各種封裝的半導體分立器件進行功率間歇壽命試驗（IOL）、秒級﹙s﹚/分鐘級﹙min﹚功率循環試驗（Power Cycling）。
引用標準：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、AEC-Q101、IEC60747、AQG-324...
適用器件：各種封裝類型Diode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMT等功率模塊
適用行業：軍工電子、汽車電子、消費電子、軌道交通、半導體器件設計和封測企業
濾波器高溫老煉檢測系統（HTOL-能饋型）
產品概述：本系統適用于各種封裝類型的濾波器在高溫環境下進行功率老煉篩選和穩態壽命試驗（HTOL-能饋型）。
引用標準：GJB548、GJB2438、MIL-STD-883、MIL-M-28787...
適用器件：DC/DC、AC/DC
適用行業：軍工電子、消費電子、半導體設計、封測企業...
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光電耦合器功率老煉檢測系統（OP-Life）
產品概述：本系統適用于各種封裝類型的光電耦合器在常溫環境下進行功率老煉篩選和穩態壽命試驗（OP-Life）。
引用標準：GJB128、GJB548、GJB597、MIL-STD-750、MIL-STD-883、MIL-M-38510...
適用器件：光電耦合器（單、雙、四）
適用行業：軍工電子、消費電子、半導體設計、封測企業...
光電耦合器高溫老煉檢測系統（HTOL）
產品概述：本系統適用于各種封裝類型的光電耦合器在高溫環境下進行功率老煉篩選和穩態壽命試驗（HTOL）。
引用標準：GJB128、GJB548、GJB597、MIL-STD-750、MIL-STD-883、MIL-M-38510...
適用器件：光電耦合器（單、雙、四）
適用行業：軍工電子、消費電子、半導體設計、封測企業...
微波射頻器件三溫測試機（TEST）
本系統適用于各類射頻器件高溫、常溫和低溫下的性能測試，具備S參數測試、線性度測試、電源測試、噪聲系數測試、相位噪聲測試、矢量信號測試和射頻時序測試功能。硬件上通過開關矩陣實現各種儀器、儀表的信號切換，軟件上通過高精度快速測量算法、非理想負載校正算法、動態范圍擴展算法實現無人員干預下全自動測試。本系統還具備了測試單元模組化、測試方案集成化和測試流程一體化的特點，以及載具修正、參數補償、儀表性能擴展等多項技術，可全面提高測試精度和效率。
引用標準：SEMI SECS/GEM相關標準
Standards referenced：SEMI SECS/GEM related.
適用器件：濾波器、放大器、耦合器等射頻器件
Applicable device：Radiofrequency devices likeWave filters, signal amplifiers, couplers, etc.
適用行業：軍工電子、汽車電子、車軌交通、消費電子、半導體設計、封測企業...
Applicable industry：Military electronics、automotive electronics、consumer electronics、rail traffic、semiconductor device design、packaging and testing enterprises
老化測試機是一種專為模擬電子、機械或材料部件在長期使用中可能遭遇的應力條件而設計的測試設備。它通過模擬高溫、高濕、振動等環境因素，評估產品的耐用性、可靠性和使用壽命，確保在正常使用條件下能穩定運行。此測試過程對提升產品質量、預防故障及保障消費者安全具有重要意義。
