老化測試系統(tǒng)-軍用老化測試-老煉測試設(shè)備-可靠性測試設(shè)備
S-PCTE-1000/3000-36 功率循環(huán)測試機(jī)
本系統(tǒng)適用于各種封裝的半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行功率間歇壽命試驗(yàn)（IOL）、秒級(jí)﹙s﹚/分鐘級(jí)﹙min﹚功率循環(huán)試驗(yàn)（Power Cycling）。
產(chǎn)品概述：本系統(tǒng)適用于各種封裝的半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行功率間歇壽命試驗(yàn)（IOL）、秒級(jí)﹙s﹚/分鐘級(jí)﹙min﹚功率循環(huán)試驗(yàn)（Power Cycling）。
引用標(biāo)準(zhǔn)：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、AEC-Q101、IEC60747、AQG-324...
適用器件：各種封裝類型Diode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET、GaN-HEMT等功率模塊
適用行業(yè)：軍工電子、汽車電子、消費(fèi)電子、軌道交通、半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)和封測企業(yè)
濾波器高溫老煉檢測系統(tǒng)（HTOL-能饋型）
產(chǎn)品概述：本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的濾波器在高溫環(huán)境下進(jìn)行功率老煉篩選和穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)（HTOL-能饋型）。
引用標(biāo)準(zhǔn)：GJB548、GJB2438、MIL-STD-883、MIL-M-28787...
適用器件：DC/DC、AC/DC
適用行業(yè)：軍工電子、消費(fèi)電子、半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、封測企業(yè)...
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光電耦合器功率老煉檢測系統(tǒng)（OP-Life）
產(chǎn)品概述：本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的光電耦合器在常溫環(huán)境下進(jìn)行功率老煉篩選和穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)（OP-Life）。
引用標(biāo)準(zhǔn)：GJB128、GJB548、GJB597、MIL-STD-750、MIL-STD-883、MIL-M-38510...
適用器件：光電耦合器（單、雙、四）
適用行業(yè)：軍工電子、消費(fèi)電子、半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、封測企業(yè)...
光電耦合器高溫老煉檢測系統(tǒng)（HTOL）
產(chǎn)品概述：本系統(tǒng)適用于各種封裝類型的光電耦合器在高溫環(huán)境下進(jìn)行功率老煉篩選和穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)（HTOL）。
引用標(biāo)準(zhǔn)：GJB128、GJB548、GJB597、MIL-STD-750、MIL-STD-883、MIL-M-38510...
適用器件：光電耦合器（單、雙、四）
適用行業(yè)：軍工電子、消費(fèi)電子、半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、封測企業(yè)...
微波射頻器件三溫測試機(jī)（TEST）
本系統(tǒng)適用于各類射頻器件高溫、常溫和低溫下的性能測試，具備S參數(shù)測試、線性度測試、電源測試、噪聲系數(shù)測試、相位噪聲測試、矢量信號(hào)測試和射頻時(shí)序測試功能。硬件上通過開關(guān)矩陣實(shí)現(xiàn)各種儀器、儀表的信號(hào)切換，軟件上通過高精度快速測量算法、非理想負(fù)載校正算法、動(dòng)態(tài)范圍擴(kuò)展算法實(shí)現(xiàn)無人員干預(yù)下全自動(dòng)測試。本系統(tǒng)還具備了測試單元模組化、測試方案集成化和測試流程一體化的特點(diǎn)，以及載具修正、參數(shù)補(bǔ)償、儀表性能擴(kuò)展等多項(xiàng)技術(shù)，可全面提高測試精度和效率。
引用標(biāo)準(zhǔn)：SEMI SECS/GEM相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
Standards referenced：SEMI SECS/GEM related.
適用器件：濾波器、放大器、耦合器等射頻器件
Applicable device：Radiofrequency devices likeWave filters, signal amplifiers, couplers, etc.
適用行業(yè)：軍工電子、汽車電子、車軌交通、消費(fèi)電子、半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、封測企業(yè)...
Applicable industry：Military electronics、automotive electronics、consumer electronics、rail traffic、semiconductor device design、packaging and testing enterprises
老化測試機(jī)是一種專為模擬電子、機(jī)械或材料部件在長期使用中可能遭遇的應(yīng)力條件而設(shè)計(jì)的測試設(shè)備。它通過模擬高溫、高濕、振動(dòng)等環(huán)境因素，評(píng)估產(chǎn)品的耐用性、可靠性和使用壽命，確保在正常使用條件下能穩(wěn)定運(yùn)行。此測試過程對(duì)提升產(chǎn)品質(zhì)量、預(yù)防故障及保障消費(fèi)者安全具有重要意義。
